無損(sun)檢(jian)(jian)測就是利(li)用(yong)聲、光、磁和電(dian)等(deng)(deng)特性(xing)(xing)，在不損(sun)害或不影響被檢(jian)(jian)對(dui)象使(shi)用(yong)性(xing)(xing)能的(de)(de)前(qian)提下，檢(jian)(jian)測被檢(jian)(jian)對(dui)象中是否(fou)存(cun)在缺陷或不均勻(yun)性(xing)(xing)，給出缺陷的(de)(de)大小、位置(zhi)、性(xing)(xing)質和數(shu)量(liang)等(deng)(deng)信(xin)息，進(jin)而(er)判定(ding)被檢(jian)(jian)對(dui)象所處技術狀態(如合格(ge)與否(fou)、剩余(yu)壽命等(deng)(deng))的(de)(de)所有技術手(shou)段的(de)(de)總稱。常用(yong)的(de)(de)無損(sun)檢(jian)(jian)測方法：超聲檢(jian)(jian)測(UT)、磁粉檢(jian)(jian)測(MT)、液體滲透(tou)檢(jian)(jian)測(PT)及X射線檢(jian)(jian)測(RT)。       


  超聲波(bo)檢(jian)測(ce)已經單(dan)獨詳細(xi)的介紹過了，下面就簡單(dan)地(di)對(dui)剩下的三個(ge)進行介紹和對(dui)比。       


 首先來了解一下，磁粉檢測的(de)(de)原理。鐵磁性(xing)材(cai)料和工(gong)件(jian)被磁化后，由于(yu)不(bu)(bu)連(lian)續(xu)性(xing)的(de)(de)存在，工(gong)件(jian)表(biao)面和近表(biao)面的(de)(de)磁力線發生局部畸變，而產生漏磁場，吸附(fu)施加在工(gong)件(jian)表(biao)面的(de)(de)磁粉，形成在合(he)適光照下目視可見的(de)(de)磁痕，從而顯示出(chu)不(bu)(bu)連(lian)續(xu)性(xing)的(de)(de)位(wei)置(zhi)、形狀和大(da)小。       


 磁粉檢測(ce)的適用性和(he)局限(xian)性有：


 1. 磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)適(shi)用于(yu)檢測鐵磁(ci)性材料表(biao)面和近表(biao)面尺寸很小、間隙極窄目視難以看出的(de)不連續性。       


 2. 磁粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)可對多種情況(kuang)下(xia)的零部(bu)件檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，還可多種型件進行檢(jian)(jian)測(ce)(ce)。       


 3. 可發現裂紋(wen)、夾雜、發紋(wen)、白(bai)點、折疊、冷隔(ge)和疏松等(deng)缺(que)陷。       


 4. 磁粉檢(jian)測不能檢(jian)測奧氏體(ti)不銹鋼材料和(he)用奧氏體(ti)不銹鋼焊條焊接(jie)的(de)焊縫，也不能檢(jian)測銅鋁鎂(mei)鈦等非磁性材料。對于表面淺(qian)劃(hua)傷、埋藏(zang)較(jiao)深洞和(he)與工件表面夾角小于20°的(de)分層(ceng)和(he)折疊很(hen)難發(fa)現。


  液(ye)體滲透(tou)檢測的(de)基本(ben)原理，零件(jian)表(biao)(biao)面被施涂(tu)含有熒光(guang)(guang)染(ran)(ran)料(liao)或(huo)著色(se)染(ran)(ran)料(liao)后(hou)，在一段(duan)時間的(de)毛(mao)細(xi)管作用(yong)下(xia)(xia)，滲透(tou)液(ye)可以滲透(tou)進表(biao)(biao)面開口缺(que)(que)陷中(zhong)；經去除零件(jian)表(biao)(biao)面多余的(de)滲透(tou)液(ye)后(hou)，再在零件(jian)表(biao)(biao)面施涂(tu)顯像(xiang)劑(ji)，同樣，在毛(mao)細(xi)管的(de)作用(yong)下(xia)(xia)，顯像(xiang)劑(ji)將(jiang)吸引缺(que)(que)陷中(zhong)保留的(de)滲透(tou)液(ye)，滲透(tou)液(ye)回滲到顯像(xiang)劑(ji)中(zhong)，在一定的(de)光(guang)(guang)源下(xia)(xia)(紫外線光(guang)(guang)或(huo)白光(guang)(guang))，缺(que)(que)陷處的(de)滲透(tou)液(ye)痕(hen)跡被現實，(黃綠色(se)熒光(guang)(guang)或(huo)鮮艷紅色(se))，從而探測出缺(que)(que)陷的(de)形貌及(ji)分布狀(zhuang)態。        


 滲透檢測的優點：1. 可檢(jian)測各種(zhong)材(cai)料(liao)； 2. 具有較高的靈敏度；3. 顯示直觀、操作方便、檢(jian)測費(fei)用低。       


 滲透檢測的缺點：1. 不適于(yu)檢(jian)查多孔(kong)性疏松材料制成的(de)工件(jian)和表面粗(cu)糙的(de)工件(jian)；2. 滲透檢(jian)測只能(neng)檢(jian)出缺陷(xian)的(de)表面分布(bu)，難以(yi)確定缺陷(xian)的(de)實際(ji)深度，因而(er)很難對缺陷(xian)做(zuo)出定量評價。檢(jian)出結果受操作者的(de)影響也(ye)較大。       


 最(zui)后(hou)一(yi)種，射線(xian)檢測，是因為 X射線(xian)穿過被照射物體(ti)后(hou)會(hui)有(you)損(sun)耗，不(bu)(bu)同(tong)厚度不(bu)(bu)同(tong)物質對它們的(de)吸(xi)收率不(bu)(bu)同(tong)，而(er)底片放在被照射物體(ti)的(de)另一(yi)側，會(hui)因為射線(xian)強度不(bu)(bu)同(tong)而(er)產(chan)生(sheng)相應的(de)圖形(xing),評片人員就可(ke)以根據影像(xiang)來判斷物體(ti)內(nei)部的(de)是否有(you)缺陷以及缺陷的(de)性質。 


 射(she)線檢(jian)測的適用性和局限性：   1. 對(dui)檢(jian)測體(ti)積(ji)型的缺(que)陷比較敏感(gan)，比較容易對(dui)缺(que)陷進行定性。 2. 射(she)線底(di)(di)片易于保留(liu)，有追溯(su)性。3. 直觀(guan)顯示缺(que)陷的形狀(zhuang)和類型。  4. 缺(que)點(dian)不(bu)能(neng)定位缺(que)陷的埋(mai)藏深度，同時(shi)檢(jian)測厚度有限，底(di)(di)片需專(zhuan)門(men)送洗，并且對(dui)人身體(ti)有一定害，成本較高。     


  總而言之(zhi)，超聲波、X射線探(tan)傷(shang)適用于探(tan)傷(shang)內部(bu)缺(que)陷；其(qi)中超聲波適用于5mm以上(shang)，且(qie)形狀(zhuang)規則的部(bu)件，X射線不能(neng)定(ding)位缺(que)陷的埋藏(zang)深度，有輻射。 磁(ci)粉(fen)、滲(shen)透(tou)探(tan)傷(shang)適用于探(tan)傷(shang)部(bu)件表(biao)面缺(que)陷；其(qi)中磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)僅限(xian)于檢測磁(ci)性材料(liao)，滲(shen)透(tou)探(tan)傷(shang)僅限(xian)于檢測表(biao)面開口缺(que)陷。