什么(me)是(shi)(shi)無(wu)(wu)(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)？ 無(wu)(wu)(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)是(shi)(shi)指(zhi)在(zai)不(bu)(bu)(bu)(bu)損(sun)害或不(bu)(bu)(bu)(bu)影響被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)對象(xiang)使(shi)用性能、不(bu)(bu)(bu)(bu)傷害被檢(jian)(jian)(jian)測(ce)對象(xiang)內(nei)部組織的(de)(de)前提下，利用材料內(nei)部結構存(cun)在(zai)異常或缺(que)陷(xian)而引起的(de)(de)熱、聲(sheng)、光、電、磁等反應變(bian)化(hua)(hua)，以物理或化(hua)(hua)學方法(fa)(fa)為手段，借助現代化(hua)(hua)的(de)(de)技(ji)術和設備器材，對試(shi)件(jian)內(nei)部及(ji)表面的(de)(de)結構、性質(zhi)、狀態及(ji)缺(que)陷(xian)的(de)(de)類型、性質(zhi)、數量、形狀、位置(zhi)、尺(chi)寸(cun)、分布及(ji)其(qi)變(bian)化(hua)(hua)進行檢(jian)(jian)(jian)查和測(ce)試(shi)的(de)(de)方法(fa)(fa)。 無(wu)(wu)(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)優(you)點 無(wu)(wu)(wu)損(sun)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)具(ju)有非(fei)破壞性、互容(rong)性、動態性等優(you)點而得(de)到(dao)公眾(zhong)的(de)(de)廣泛(fan)認可，也在(zai)一定程度上反映了(le)一個國家(jia)的(de)(de)工(gong)業發(fa)展水平，是(shi)(shi)工(gong)業發(fa)展必(bi)不(bu)(bu)(bu)(bu)可少的(de)(de)有效工(gong)具(ju)。 非(fei)破壞性 非(fei)破壞性是(shi)(shi)指(zhi)在(zai)獲得(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)結果的(de)(de)同時(shi)，除(chu)了(le)剔(ti)除(chu)不(bu)(bu)(bu)(bu)合(he)格品外，不(bu)(bu)(bu)(bu)損(sun)失零件(jian)。因(yin)此，檢(jian)(jian)(jian)測(ce)規模(mo)不(bu)(bu)(bu)(bu)受(shou)零件(jian)多少的(de)(de)限制，既可抽樣檢(jian)(jian)(jian)驗，又可在(zai)必(bi)要時(shi)采用普檢(jian)(jian)(jian)。

  互容性(xing)(xing)即指(zhi)(zhi)檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)方(fang)法(fa)(fa)的(de)(de)互容性(xing)(xing)，即同一(yi)零件可(ke)同時或依次采用(yong)不同的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)方(fang)法(fa)(fa)，而且又(you)可(ke)重復地進行(xing)同一(yi)檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)。當然(ran)，這也(ye)是非破(po)壞性(xing)(xing)帶來(lai)的(de)(de)好處。 動(dong)態性(xing)(xing) 動(dong)態性(xing)(xing)是指(zhi)(zhi)無損探傷方(fang)法(fa)(fa)可(ke)對使用(yong)中的(de)(de)零件進行(xing)檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)，而且能夠適(shi)時考(kao)察產品運行(xing)期的(de)(de)累計影響，可(ke)查明結構的(de)(de)失效機理。 無損檢(jian)(jian)(jian)測的(de)(de)方(fang)法(fa)(fa) 無損檢(jian)(jian)(jian)測的(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)很多(duo)，據美國(guo)國(guo)家宇航局調研分(fen)析(xi)可(ke)分(fen)為六大類約70余種。但(dan)在實(shi)際(ji)應用(yong)中，比較(jiao)常見的(de)(de)有目視檢(jian)(jian)(jian)測(VT)、射線(xian)照相法(fa)(fa)(RT)、超聲波(bo)檢(jian)(jian)(jian)測(UT)、磁(ci)粉檢(jian)(jian)(jian)測(MT)、滲透檢(jian)(jian)(jian)測(PT)、渦流檢(jian)(jian)(jian)測(ECT)、聲發射(AE)、超聲波(bo)衍射時差法(fa)(fa)(TOFD)等(deng)。