工業無損探傷的(de)(de)方(fang)法(fa)很多，目前(qian)國內外最常(chang)用的(de)(de)探傷方(fang)法(fa)有五(wu)種(zhong)，即人們常(chang)稱的(de)(de)五(wu)大常(chang)規(gui)探傷方(fang)法(fa)。本文將(jiang)首先(xian)介紹五(wu)大常(chang)規(gui)探傷方(fang)法(fa)及其(qi)特(te)點(dian)，并結(jie)合汽車(che)維(wei)修中的(de)(de)特(te)定條件(jian)和需求(qiu)，選出(chu)更適合于(yu)汽車(che)維(wei)修的(de)(de)探傷方(fang)法(fa)。
五大常規方法(fa)是指(zhi)射線探傷(shang)法(fa)RT、超聲波探傷(shang)法(fa)UT、磁粉探傷(shang)法(fa)MT、渦流探傷(shang)法(fa)ET和(he)滲(shen)透探傷(shang)法(fa)PT。
1. 射線探傷(shang)方法
射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)穿透(tou)性和(he)(he)直(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)性來(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法。這(zhe)些(xie)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖(sui)然不(bu)會像(xiang)可(ke)見光(guang)那樣(yang)憑(ping)肉(rou)眼就(jiu)能(neng)直(zhi)接(jie)(jie)察知，但它可(ke)使照相底片(pian)(pian)感光(guang)，也(ye)可(ke)用(yong)(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)器來(lai)接(jie)(jie)收(shou)。常用(yong)(yong)(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)(you)x光(guang)和(he)(he)同(tong)位(wei)素發出(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)和(he)(he)γ射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。當這(zhe)些(xie)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)(guo)（照射(she)(she)(she)(she)）物質時，該(gai)物質的(de)(de)(de)(de)(de)(de)密度越大(da)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強度減(jian)弱(ruo)(ruo)得(de)越多(duo)，即(ji)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)穿透(tou)過(guo)(guo)該(gai)物質的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強度就(jiu)越小(xiao)。此時，若(ruo)(ruo)(ruo)用(yong)(yong)(yong)照相底片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)，則(ze)(ze)底片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)感光(guang)量就(jiu)小(xiao)；若(ruo)(ruo)(ruo)用(yong)(yong)(yong)儀器來(lai)接(jie)(jie)收(shou)，獲(huo)得(de)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)弱(ruo)(ruo)。因此，用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)照射(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部件(jian)時，若(ruo)(ruo)(ruo)其內部有(you)(you)氣孔、夾(jia)渣等缺(que)(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)(guo)有(you)(you)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)路徑(jing)比沒有(you)(you)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)路徑(jing)所透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)物質密度要小(xiao)得(de)多(duo)，其強度就(jiu)減(jian)弱(ruo)(ruo)得(de)少些(xie)，即(ji)透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強度就(jiu)大(da)些(xie)，若(ruo)(ruo)(ruo)用(yong)(yong)(yong)底片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)，則(ze)(ze)感光(guang)量就(jiu)大(da)些(xie)，就(jiu)可(ke)以(yi)從底片(pian)(pian)上反(fan)映出(chu)缺(que)(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)投(tou)影(ying)；若(ruo)(ruo)(ruo)用(yong)(yong)(yong)其它接(jie)(jie)收(shou)器也(ye)同(tong)樣(yang)可(ke)以(yi)用(yong)(yong)(yong)儀表來(lai)反(fan)映缺(que)(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)投(tou)影(ying)和(he)(he)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)(guo)量。由此可(ke)見，一般情況(kuang)下，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)是不(bu)易發現裂(lie)紋的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，或者(zhe)說，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)對裂(lie)紋是不(bu)敏感的(de)(de)(de)(de)(de)(de)。因此，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)對氣孔、夾(jia)渣、未(wei)焊(han)透(tou)等體積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)最敏感。即(ji)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)適(shi)(shi)宜(yi)用(yong)(yong)(yong)于(yu)體積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)，而不(bu)適(shi)(shi)宜(yi)面(mian)積(ji)型缺(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。
2. 超聲波探傷方法
人們的(de)(de)(de)(de)耳朵能直(zhi)接(jie)接(jie)收(shou)到的(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)頻(pin)率范圍通常(chang)(chang)(chang)是(shi)20Hz到20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率低(di)于(yu)20 Hz的(de)(de)(de)(de)稱為(wei)(wei)次聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，高于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)稱為(wei)(wei)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)。工業上常(chang)(chang)(chang)用(yong)數兆赫茲(zi)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)頻(pin)率高，則傳播(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性強，又易(yi)于(yu)在固體(ti)中(zhong)傳播(bo)(bo)，并(bing)且遇(yu)到兩種不(bu)同介(jie)(jie)質形(xing)成(cheng)的(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)時易(yi)于(yu)反(fan)射(she)，這樣就(jiu)可(ke)以用(yong)它來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷。通常(chang)(chang)(chang)用(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)與(yu)待探(tan)(tan)(tan)工件(jian)(jian)表(biao)面(mian)(mian)良(liang)好的(de)(de)(de)(de)接(jie)觸(chu)，探(tan)(tan)(tan)頭(tou)則可(ke)有效地向工件(jian)(jian)發射(she)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，并(bing)能接(jie)收(shou)（缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)）界(jie)面(mian)(mian)反(fan)射(she)來(lai)的(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，同時轉換成(cheng)電(dian)信號，再傳輸給儀器進行處理。根(gen)據(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)在介(jie)(jie)質中(zhong)傳播(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)速(su)度（常(chang)(chang)(chang)稱聲(sheng)(sheng)速(su)）和傳播(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)時間，就(jiu)可(ke)知(zhi)道缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)位置。當(dang)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)越大(da)，反(fan)射(she)面(mian)(mian)則越大(da)，其反(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)能量(liang)也就(jiu)越大(da)，故可(ke)根(gen)據(ju)反(fan)射(she)能量(liang)的(de)(de)(de)(de)大(da)小來(lai)查知(zhi)各缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)（當(dang)量(liang)）的(de)(de)(de)(de)大(da)小。常(chang)(chang)(chang)用(yong)的(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)形(xing)有縱波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)、橫(heng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)、表(biao)面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)等，前二者適用(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)測內部缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，后者適宜(yi)于(yu)探(tan)(tan)(tan)測表(biao)面(mian)(mian)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，但對表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)條(tiao)件(jian)(jian)要求高。
3. 磁粉探傷(shang)方法(fa)
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)是(shi)建立(li)在漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎(chu)上(shang)(shang)的一種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)方(fang)法。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)線(xian)穿過鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料及(ji)其(qi)制品時(shi)，在其(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連(lian)續處將產生(sheng)漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此(ci)時(shi)撒(sa)上(shang)(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)或澆上(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就(jiu)會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)，產生(sheng)用肉眼(yan)能直接(jie)(jie)觀察的明顯(xian)(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci)，可(ke)借助(zhu)于該(gai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)(xian)示(shi)(shi)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料及(ji)其(qi)制品的缺(que)(que)陷(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)法可(ke)探(tan)測(ce)露出(chu)表(biao)面，用肉眼(yan)或借助(zhu)于放大鏡也(ye)不(bu)能直接(jie)(jie)觀察到的微小缺(que)(que)陷(xian)，也(ye)可(ke)探(tan)測(ce)未(wei)露出(chu)表(biao)面，而(er)是(shi)埋藏在表(biao)面下幾毫米的近表(biao)面缺(que)(que)陷(xian)。用這種(zhong)方(fang)法雖然也(ye)能探(tan)查(cha)(cha)氣孔、夾(jia)雜(za)、未(wei)焊透等體積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)，但(dan)對面積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)更靈敏，更適(shi)于檢查(cha)(cha)因淬火、軋(ya)制、鍛造、鑄造、焊接(jie)(jie)、電鍍、磨削、疲(pi)勞等引起的裂紋。 磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)中對缺(que)(que)陷(xian)的顯(xian)(xian)示(shi)(shi)方(fang)法有(you)多種(zhong)，有(you)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的，也(ye)有(you)不(bu)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的。用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的稱(cheng)(cheng)(cheng)為(wei)(wei)(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)，因它(ta)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)直觀、操作簡單(dan)、人們樂于使用，故它(ta)是(shi)最(zui)常(chang)用的方(fang)法之一。不(bu)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的，習(xi)慣上(shang)(shang)稱(cheng)(cheng)(cheng)為(wei)(wei)(wei)(wei)漏(lou)(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)傷(shang)，它(ta)常(chang)借助(zhu)于感應線(xian)圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元件等來反映缺(que)(que)陷(xian)，它(ta)比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)更衛生(sheng)，但(dan)不(bu)如前者直觀。由于目(mu)前磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)主要用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)來顯(xian)(xian)示(shi)(shi)缺(que)(que)陷(xian)，因此(ci)，人們有(you)時(shi)把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探(tan)傷(shang)直接(jie)(jie)稱(cheng)(cheng)(cheng)為(wei)(wei)(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)，其(qi)設備(bei)(bei)稱(cheng)(cheng)(cheng)為(wei)(wei)(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)設備(bei)(bei)。
4. 渦流探傷方法
渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)探(tan)傷是(shi)由交(jiao)流(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)產生的交(jiao)變磁場作用(yong)(yong)于(yu)待探(tan)傷的導(dao)電(dian)材(cai)料(liao)，感應出電(dian)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)。如(ru)果材(cai)料(liao)中有(you)(you)缺(que)陷，它將(jiang)干擾(rao)所產生的電(dian)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)，即形(xing)成干擾(rao)信(xin)(xin)號(hao)(hao)。用(yong)(yong)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)探(tan)傷儀檢測出其干擾(rao)信(xin)(xin)號(hao)(hao)，就(jiu)可知道(dao)缺(que)陷的狀(zhuang)況。影響渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)的因(yin)素很多(duo)，即是(shi)說(shuo)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)中載有(you)(you)豐富的信(xin)(xin)號(hao)(hao)，這(zhe)些信(xin)(xin)號(hao)(hao)與材(cai)料(liao)的很多(duo)因(yin)素有(you)(you)關，如(ru)何將(jiang)其中有(you)(you)用(yong)(yong)的信(xin)(xin)號(hao)(hao)從(cong)諸(zhu)多(duo)的信(xin)(xin)號(hao)(hao)中一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離出來，是(shi)目前渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)研究(jiu)工作者的難題(ti)，多(duo)年來已經取得了一(yi)(yi)些進展(zhan)，在一(yi)(yi)定條件(jian)下(xia)可解決(jue)一(yi)(yi)些問題(ti)，但還遠不能滿足現場的要(yao)求(qiu)，有(you)(you)待于(yu)大(da)力發展(zhan)。
渦流(liu)探(tan)傷的(de)(de)顯著特點(dian)是對導(dao)電材(cai)(cai)料(liao)就(jiu)能(neng)起作用(yong)，而不一定是鐵磁(ci)材(cai)(cai)料(liao)，但對鐵磁(ci)材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)效果較(jiao)(jiao)差(cha)。其次，待探(tan)工件表(biao)面的(de)(de)光潔度、平整度、邊介(jie)等(deng)(deng)對渦流(liu)探(tan)傷都有較(jiao)(jiao)大影響，因此常將渦流(liu)探(tan)傷用(yong)于形(xing)狀較(jiao)(jiao)規(gui)則、表(biao)面較(jiao)(jiao)光潔的(de)(de)銅(tong)管等(deng)(deng)非鐵磁(ci)性工件探(tan)傷。
5. 滲透探傷方法(fa)
滲(shen)(shen)(shen)(shen)透探(tan)傷(shang)是(shi)(shi)利用(yong)毛(mao)細現象(xiang)(xiang)來進行探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。對于(yu)表(biao)面(mian)光滑而(er)清潔的(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部件，用(yong)一種帶(dai)(dai)(dai)色(se)（常(chang)(chang)(chang)(chang)為(wei)紅色(se)）或(huo)帶(dai)(dai)(dai)有(you)熒光的(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)(shen)透性很(hen)(hen)強(qiang)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，涂覆于(yu)待探(tan)零(ling)部件的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)面(mian)。若(ruo)表(biao)面(mian)有(you)肉眼(yan)不能直接察知的(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)(lie)紋，由(you)于(yu)該液(ye)(ye)(ye)體的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透性很(hen)(hen)強(qiang)，它(ta)將(jiang)(jiang)沿(yan)著裂(lie)(lie)紋滲(shen)(shen)(shen)(shen)透到其根部。然后將(jiang)(jiang)表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透液(ye)(ye)(ye)洗去，再涂上(shang)(shang)(shang)對比度較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)液(ye)(ye)(ye)（常(chang)(chang)(chang)(chang)為(wei)白色(se)）。放(fang)置片刻(ke)后，由(you)于(yu)裂(lie)(lie)紋很(hen)(hen)窄，毛(mao)細現象(xiang)(xiang)作用(yong)顯(xian)(xian)著，原滲(shen)(shen)(shen)(shen)透到裂(lie)(lie)紋內(nei)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透液(ye)(ye)(ye)將(jiang)(jiang)上(shang)(shang)(shang)升到表(biao)面(mian)并擴散，在白色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)(shang)(shang)顯(xian)(xian)出(chu)較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從而(er)顯(xian)(xian)示(shi)出(chu)裂(lie)(lie)紋露(lu)于(yu)表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀(zhuang)，因此，常(chang)(chang)(chang)(chang)稱為(wei)著色(se)探(tan)傷(shang)。若(ruo)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透液(ye)(ye)(ye)采用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)帶(dai)(dai)(dai)熒光的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，由(you)毛(mao)細現象(xiang)(xiang)上(shang)(shang)(shang)升到表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，則會在紫外燈照射下發出(chu)熒光，從而(er)更能顯(xian)(xian)示(shi)出(chu)裂(lie)(lie)紋露(lu)于(yu)表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀(zhuang)，故常(chang)(chang)(chang)(chang)常(chang)(chang)(chang)(chang)又將(jiang)(jiang)此時的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透探(tan)傷(shang)直接稱為(wei)熒光探(tan)傷(shang)。此探(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)也可用(yong)于(yu)金屬和非(fei)金屬表(biao)面(mian)探(tan)傷(shang)。其使(shi)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)液(ye)(ye)(ye)劑(ji)有(you)較(jiao)大氣味，常(chang)(chang)(chang)(chang)有(you)一定毒性。
除以上五大常(chang)規方法外，近年(nian)來又有了紅外、聲發射等一些(xie)新的探傷(shang)方法。
浙江至德鋼業有限公司專業生產不銹鋼管及管道連接配件廠家，倉庫常備不銹鋼管庫存1000余噸及部分不銹鋼法蘭管件（彎頭|三通|大小頭）現貨，常用規格可當天發貨。另可提供各種不銹鋼管切割、拋光、折彎、鉆孔、焊接、車床加工及管道預制件加工等配套服務。
