自動化不銹(xiu)鋼管漏磁檢測中,單點測量單元很難滿足檢測的要求,必須采用陣列檢測探頭,由多個單點測量單元按一定的規律排列,并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。


  陣列檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭是磁場傳感器(qi)(qi)的(de)(de)載體和(he)組合,是漏(lou)磁檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)號的(de)(de)收集器(qi)(qi)。隨著漏(lou)磁檢(jian)(jian)測(ce)應用的(de)(de)不(bu)斷深入和(he)檢(jian)(jian)測(ce)要求的(de)(de)逐(zhu)步提高,除了(le)磁化(hua)問(wen)題,另(ling)一個核心就是漏(lou)磁檢(jian)(jian)測(ce)探(tan)頭的(de)(de)設計。若(ruo)探(tan)頭性(xing)能不(bu)好或者(zhe)不(bu)合適(shi),則會(hui)出現漏(lou)判或者(zhe)誤判,嚴重影(ying)響漏(lou)磁檢(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)可靠性(xing)。


  另(ling)一方面(mian)(mian),沒有(you)一種探頭(tou)是萬能(neng)的。由于(yu)自然(ran)缺陷的形態千變萬化,檢(jian)測(ce)探頭(tou)必然(ran)存在局限性,漏判或誤判的情況在檢(jian)測(ce)實踐中時有(you)發生。下面(mian)(mian)對檢(jian)測(ce)探頭(tou)的內部(bu)結構和檢(jian)測(ce)特(te)性進(jin)行(xing)分析(xi)。



一、漏磁檢測探頭的結構形式


  目(mu)前(qian),最具代表性的(de)不銹(xiu)鋼管漏(lou)磁檢(jian)測(ce)傳(chuan)感(gan)器有兩種:霍爾元件(jian)和(he)(he)感(gan)應線圈,尤其是集成(cheng)霍爾元件(jian)和(he)(he)光刻平面線圈。為了獲得較高的(de)磁場測(ce)量(liang)空間分辨力和(he)(he)相對寬廣的(de)掃查范圍,檢(jian)測(ce)探(tan)頭芯結構有多種形式(shi)。


   1. 點(dian)檢測形(xing)式 在檢測探頭中,對某一(yi)點(dian)上或微小(xiao)區域的漏磁場測量,并且每個測點(dian)對應于一(yi)個獨立(li)的信號通道,如(ru)圖3-6a所示,以下簡稱為點(dian)檢探頭。很明顯,點(dian)檢探頭中每個點(dian)能夠(gou)掃查的檢測范圍很小(xiao),但空間分辨力高,如(ru)單個霍(huo)爾元件的敏感面積只(zhi)有(you)0.2×0.2m㎡,點(dian)檢用檢測線圈(quan)也(ye)可做到φ1mm內。


   2. 線檢(jian)測(ce)形式 在檢(jian)測(ce)探(tan)頭中,對(dui)一條線上的(de)漏磁(ci)場進行綜合測(ce)量,如圖3-6b所示(shi),以下簡稱(cheng)為線檢(jian)探(tan)頭。例如,用(yong)感(gan)應(ying)(ying)(ying)(ying)線圈檢(jian)測(ce)時(shi),將線圈做成(cheng)條狀,則它感(gan)應(ying)(ying)(ying)(ying)的(de)是線圈掃(sao)查路徑對(dui)應(ying)(ying)(ying)(ying)空間范圍內的(de)漏磁(ci)通的(de)變化。用(yong)霍(huo)爾(er)元(yuan)(yuan)件檢(jian)測(ce)時(shi),采(cai)用(yong)線陣排列,將多個(ge)(ge)元(yuan)(yuan)件檢(jian)測(ce)信號用(yong)加法器疊加后輸出單個(ge)(ge)通道信號,則該信號反映的(de)是霍(huo)爾(er)元(yuan)(yuan)件線陣長度內的(de)磁(ci)感(gan)應(ying)(ying)(ying)(ying)強度的(de)平均值(zhi)。


  在漏磁檢測中,上述(shu)兩種形(xing)式(shi)是最基(ji)本的(de)形(xing)式(shi),由此可(ke)以(yi)組合成多種形(xing)式(shi)的(de)探頭,如圖(tu)(tu)3-6c所示(shi)的(de)平(ping)(ping)面(mian)(mian)內(nei)的(de)面(mian)(mian)陣列探頭,以(yi)及(ji)圖(tu)(tu)3-6d所示(shi)的(de)多個平(ping)(ping)面(mian)(mian)上的(de)立體(ti)陣列探頭。


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二、漏磁檢(jian)測探頭的檢(jian)測特性


 1. 缺(que)陷類型


  不銹鋼(gang)管在進行漏磁檢測方法和(he)設備的考核時,常(chang)采用機加工(gong)或電(dian)火花方式刻制標準(zhun)人工(gong)缺陷(xian),自然(ran)缺陷(xian)可表達成它們的組合形式。為便(bian)于分(fen)析和(he)精確評估,將標準(zhun)缺陷(xian)分(fen)成下列三類(lei)。


 (1)點狀缺陷(xian) 點狀缺陷(xian)的面積小,集中在(zai)一點或小圈內(nei),如標(biao)準缺陷(xian)里(li)的通孔,自然缺陷(xian)里(li)的蝕坑(keng)、斑點、氣孔等,它們產生(sheng)的漏磁(ci)場(chang)是一個集中的點團(tuan)狀場(chang),分(fen)布范圍小。


 (2)線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷 線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷的(de)寬長比很小,形成一條線(xian),如標(biao)準缺(que)陷里(li)的(de)矩形刻(ke)槽、自(zi)然(ran)缺(que)陷里(li)的(de)裂紋等(deng),它們產(chan)生(sheng)的(de)漏磁場是沿線(xian)條的(de)帶狀(zhuang)場。


 (3)體(ti)狀缺陷(xian)(xian)(xian) 體(ti)狀缺陷(xian)(xian)(xian)的長、寬、深尺寸均(jun)較大,形成坑或(huo)窩,如(ru)標(biao)準缺陷(xian)(xian)(xian)中(zhong)的大不通孔、自(zi)然(ran)缺陷(xian)(xian)(xian)里的片(pian)狀腐蝕等(deng),它們(men)產生的漏磁場分布范圍廣。


 2. 不(bu)同結構探頭的檢測特(te)性


  不銹鋼管在漏磁(ci)(ci)檢(jian)測中,特(te)別要強調空(kong)間和方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)的概念(nian)。因為,漏磁(ci)(ci)場是(shi)空(kong)間場,且具(ju)有(you)方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)性(xing);漏磁(ci)(ci)檢(jian)測信(xin)號是(shi)時間域(yu)的,且沒有(you)相位信(xin)息;不僅檢(jian)測探頭(tou)具(ju)有(you)敏(min)感方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang),而且檢(jian)測探頭(tou)的掃(sao)查(cha)路(lu)徑也(ye)具(ju)有(you)方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)性(xing),不同方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)(xiang)均會對(dui)檢(jian)測信(xin)號及其特(te)征產生影響(xiang)。


  另一方面(mian),應(ying)該特別(bie)注意(yi)缺(que)陷漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)場(chang)(chang)的(de)(de)表(biao)征形式,在這里,漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)場(chang)(chang)強度(du)和漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)場(chang)(chang)梯度(du)存在著本(ben)質的(de)(de)不同。霍爾元(yuan)件和感應(ying)線圈(quan)兩種(zhong)器件的(de)(de)應(ying)用也有(you)著根本(ben)的(de)(de)區別(bie)。霍爾元(yuan)件可以測(ce)量(liang)(liang)空間某點上(shang)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)場(chang)(chang)強度(du),而感應(ying)線圈(quan)卻(que)無(wu)法實現;感應(ying)線圈(quan)感應(ying)的(de)(de)是空間一定范圍內(nei)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)通(tong)量(liang)(liang)的(de)(de)變化(hua)程度(du),相反(fan),霍爾元(yuan)件不可以測(ce)量(liang)(liang)磁(ci)(ci)(ci)通(tong)量(liang)(liang)的(de)(de)變化(hua),它測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)是一定空間范圍內(nei)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)感應(ying)強度(du)的(de)(de)平均(jun)值。


  下面(mian)將逐(zhu)一分析兩種(zhong)基本探頭形式對(dui)不同類(lei)型缺陷的檢測信號特性。


  a. 點檢探頭的信號(hao)特性 


   點檢(jian)探頭(tou)測量的(de)(de)(de)是(shi)空間某點上的(de)(de)(de)漏(lou)(lou)磁感(gan)應強度(du)或磁通量的(de)(de)(de)變化。點檢(jian)探頭(tou)對點狀缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)檢(jian)測是(shi)“針尖對麥芒”,空間相對位置的(de)(de)(de)微小(xiao)變化,均有可能引(yin)起檢(jian)測信號幅(fu)度(du)的(de)(de)(de)波動。點狀缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)漏(lou)(lou)磁場分布是(shi)尖峰(feng)狀的(de)(de)(de),當點檢(jian)探頭(tou)正對峰(feng)頂時,信號幅(fu)度(du)最大,偏離時信號幅(fu)度(du)將急劇(ju)下降。因此,用點檢(jian)探頭(tou)去檢(jian)測點狀缺(que)(que)陷(xian)(xian)時將會產生不穩定的(de)(de)(de)信號,導致(zhi)誤判或漏(lou)(lou)判。進行檢(jian)測設備標定時,也難將各通道(dao)的(de)(de)(de)靈敏度(du)調整到(dao)一(yi)致(zhi)。


   點檢探(tan)頭(tou)檢測(ce)線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)時,很容易掃查到線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)產生(sheng)的(de)(de)“山脈”狀(zhuang)漏(lou)磁場的(de)(de)某一個縱斷面,檢測(ce)信(xin)號(hao)幅度將正比于(yu)(yu)線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)深度。當線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)(xian)長度大于(yu)(yu)一定值時,設備標定或(huo)檢測(ce)信(xin)號(hao)的(de)(de)一致性和穩(wen)定性均較好。


  b. 線檢探頭(tou)的信號特(te)性 


   線檢(jian)探(tan)頭測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)(de)是探(tan)頭長度(du)范圍內的(de)(de)(de)平均(jun)磁(ci)感(gan)應(ying)強度(du)或磁(ci)通量(liang)的(de)(de)(de)變化。與(yu)點檢(jian)探(tan)頭相比,線檢(jian)探(tan)頭的(de)(de)(de)輸出信(xin)號(hao)特(te)性不但與(yu)缺陷的(de)(de)(de)深度(du)有關(guan),而且與(yu)缺陷的(de)(de)(de)長度(du)有關(guan),最終與(yu)缺陷缺失的(de)(de)(de)截面積成比例。這(zhe)類探(tan)頭不能直接獲(huo)得與(yu)缺陷深度(du)相關(guan)的(de)(de)(de)信(xin)息(xi),因為(wei)長而淺(qian)的(de)(de)(de)缺陷與(yu)短(duan)而深的(de)(de)(de)缺陷在檢(jian)測(ce)(ce)信(xin)號(hao)幅度(du)上有可能是一樣(yang)的(de)(de)(de)。


   線(xian)檢探(tan)頭(tou)對點狀缺陷(xian)的檢測是“滴(di)水(shui)不(bu)(bu)漏”。由于線(xian)檢探(tan)頭(tou)的長度(du)(du)遠大于點狀缺陷(xian)的長度(du)(du),在檢測路徑上,缺陷(xian)相對于探(tan)頭(tou)位置變化時(shi),不(bu)(bu)會影響檢測信(xin)號的幅(fu)度(du)(du),因(yin)而一致性較好(hao)。


   線檢探(tan)頭檢測(ce)線狀缺(que)陷時,情況較為(wei)復(fu)雜,探(tan)頭與缺(que)陷的長度比以及位置關系均會影響信號(hao)幅值。下(xia)面舉(ju)例分析。


   如圖3-7a所(suo)示,用有效長(chang)度(du)為25mm的(de)線(xian)檢(jian)探(tan)頭檢(jian)測(ce)25mm長(chang)的(de)刻槽。當探(tan)頭正對刻槽時,獲(huo)(huo)得最大的(de)信(xin)號(hao)幅值;當探(tan)頭與(yu)刻槽的(de)位置錯開時,信(xin)號(hao)幅值將隨著探(tan)頭與(yu)缺(que)陷交叉重疊程(cheng)度(du)的(de)減(jian)小(xiao)而減(jian)弱(ruo),此種狀(zhuang)(zhuang)態對檢(jian)測(ce)是不利的(de),不論是設(she)備標定還是檢(jian)測(ce)應用均(jun)很難獲(huo)(huo)得一致(zhi)的(de)檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)。圖3-7中左邊的(de)粗線(xian)段為線(xian)檢(jian)探(tan)頭,中間的(de)細線(xian)段為不同位置的(de)線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺(que)陷,右邊為不同探(tan)頭的(de)檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)幅度(du)。為實現線(xian)檢(jian)探(tan)頭的(de)一致(zhi)性檢(jian)測(ce),有如下(xia)兩(liang)種做法:


   ①. 減小線檢(jian)(jian)探頭(tou)的有效長度(du),讓它小于或等于線狀缺(que)陷長度(du)的一(yi)半(ban),同時將相鄰檢(jian)(jian)測(ce)探頭(tou)按(an)50%重疊布置,如圖3-7b所示(shi)。可以(yi)看(kan)出,不論(lun)缺(que)陷從哪個路(lu)徑(jing)通過(guo)探頭(tou)陣列,均可在某一(yi)檢(jian)(jian)測(ce)單(dan)(dan)元中獲得一(yi)個最大的信(xin)號幅值,而在其他檢(jian)(jian)測(ce)單(dan)(dan)元中得到較小的信(xin)號幅值。


   此時(shi),由(you)于線狀(zhuang)缺陷長度遠(yuan)大于探頭(tou)長度,檢測(ce)探頭(tou)測(ce)量的是漏(lou)磁場“山脈”中的某一段,如(ru)果線狀(zhuang)缺陷深度一致,它可以直接反映(ying)出深度信息。將線檢探頭(tou)的長度再(zai)不斷縮小,線檢探頭(tou)則變(bian)成點檢探頭(tou)。此時(shi),在采用標(biao)準人工缺陷進行設備標(biao)定(ding)時(shi),任何狀(zhuang)態(tai)均(jun)可得(de)到一致的檢測(ce)信號。


   ②. 增加線檢探頭的有效長度,使它超過線狀缺陷長度的2倍以上,同時將相鄰檢測探頭按50%重疊布置,如圖3-7c所示。這樣,以任何路徑掃查缺陷時,均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。


   此(ci)種檢測(ce)方法測(ce)量的(de)是線(xian)狀缺陷(xian)的(de)平(ping)均磁感(gan)應(ying)強度,因而,它反映(ying)不了(le)線(xian)狀缺陷(xian)的(de)深度信息。當缺陷(xian)的(de)長(chang)度逐漸減(jian)小時,則轉變成線(xian)檢探頭(tou)對點狀缺陷(xian)的(de)檢測(ce)。


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3. 面向(xiang)對象(xiang)的(de)檢測探頭設計和選用


 在漏磁(ci)檢測(ce)中,應該根據具體的檢測(ce)要求(qiu)來(lai)設計(ji)和選擇合適的探頭芯結構,下面給出(chu)幾種探頭設計(ji)和選用原則。


   a. 缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)深度檢測(ce)應該(gai)選擇(ze)點(dian)檢探(tan)頭 點(dian)檢探(tan)頭反映的(de)(de)(de)是局(ju)部磁感應強(qiang)度或其變化。當裂(lie)紋較長時,測(ce)點(dian)相(xiang)當于對無限(xian)長矩形槽(cao)的(de)(de)(de)探(tan)測(ce),因而,測(ce)點(dian)的(de)(de)(de)信號幅度與缺(que)陷(xian)深度密切相(xiang)關。但是,當線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)越來越短時,測(ce)量的(de)(de)(de)誤差也就越來越大(da),特(te)別地,對點(dian)狀(zhuang)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)深度探(tan)測(ce)幾乎不可(ke)能。


   在鋼管漏(lou)磁(ci)檢(jian)測(ce)校樣過程(cheng)中,一般(ban)均(jun)以通(tong)(tong)孔(kong)(kong)作為標定試樣上的(de)(de)(de)標準缺(que)陷,這樣,大(da)、小孔(kong)(kong)的(de)(de)(de)深(shen)度(du)一致(zhi),孔(kong)(kong)徑(jing)尺寸反映出缺(que)失截面積的(de)(de)(de)線(xian)性變(bian)化,因而,漏(lou)磁(ci)磁(ci)通(tong)(tong)量也(ye)將發生(sheng)線(xian)性變(bian)化。對于不(bu)通(tong)(tong)孔(kong)(kong),當(dang)孔(kong)(kong)的(de)(de)(de)深(shen)度(du)和直徑(jing)均(jun)為變(bian)量時,僅通(tong)(tong)過尋找孔(kong)(kong)深(shen)與孔(kong)(kong)徑(jing)的(de)(de)(de)乘(cheng)積與信號幅度(du)關系去反演或推算深(shen)度(du)是不(bu)可能的(de)(de)(de)。這也(ye)是僅采用(yong)漏(lou)磁(ci)方(fang)法進行檢(jian)測(ce)的(de)(de)(de)不(bu)足。


   b. 缺陷的(de)(de)損(sun)失截面積(ji)檢(jian)測應該選擇(ze)線(xian)檢(jian)探頭 線(xian)檢(jian)探頭的(de)(de)信(xin)號幅度與缺陷損(sun)失的(de)(de)截面積(ji)成(cheng)比(bi)例,因而有較好的(de)(de)測量精度。在有些檢(jian)測對(dui)象(xiang)中應用較好。


   c. 缺(que)陷(xian)的長度(du)(du)(du)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)應該(gai)用(yong)點檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)(tou)陣(zhen)列或點線組(zu)合(he)式探頭(tou)(tou) 點檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)(tou)敏(min)感(gan)于缺(que)陷(xian)的深(shen)度(du)(du)(du),當(dang)采用(yong)點檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)(tou)陣(zhen)列時(shi),缺(que)陷(xian)長度(du)(du)(du)覆蓋的通道數(shu)量可(ke)以反映其長度(du)(du)(du)信息;另一(yi)方面,當(dang)線檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)(tou)大于缺(que)陷(xian)的長度(du)(du)(du)時(shi),感(gan)應的是深(shen)度(du)(du)(du)和(he)長度(du)(du)(du)的共(gong)同(tong)信息,如在(zai)其感(gan)應范圍內并列布(bu)置一(yi)個(ge)或多個(ge)點檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)(tou)感(gan)受(shou)深(shen)度(du)(du)(du)信息,則裂(lie)紋的長度(du)(du)(du)就可(ke)以計算(suan)出來。


    從信號處理角度來看,點線(xian)組合式探頭需要(yao)的(de)通道數量較少,可以同時(shi)獲得缺陷的(de)深度、長度、缺失截面積(ji)等信息,具(ju)有較強的(de)應用價(jia)值(zhi)。


   d. 斜向(xiang)裂紋(wen)采(cai)用點檢(jian)探(tan)頭陣列檢(jian)測(ce) 在漏磁(ci)檢(jian)測(ce)中,當缺陷走(zou)向(xiang)與(yu)磁(ci)化場方向(xiang)不垂直(zhi)時(shi),漏磁(ci)場的(de)(de)強度將降低,從(cong)而獲得較(jiao)小的(de)(de)信(xin)號幅(fu)值。因此,斜向(xiang)缺陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)與(yu)評估,需要首先檢(jian)測(ce)出裂紋(wen)的(de)(de)走(zou)向(xiang),并且根據走(zou)向(xiang)修正漏磁(ci)場信(xin)號幅(fu)度,再進行深度判別。


  另一方(fang)面,當探頭(tou)(tou)掃(sao)查(cha)路徑垂直(zhi)于(yu)缺(que)陷(xian)走向時(shi),檢(jian)(jian)測信號(hao)(hao)(hao)幅(fu)值(zhi)最大(da);隨著兩者夾角不斷減小,檢(jian)(jian)測信號(hao)(hao)(hao)幅(fu)值(zhi)逐(zhu)漸降(jiang)低,同時(shi)信號(hao)(hao)(hao)特性也(ye)將(jiang)發生明顯變(bian)化(hua)。此(ci)時(shi),線檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)的檢(jian)(jian)測信號(hao)(hao)(hao)特性變(bian)化(hua)很(hen)大(da),點檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)的信號(hao)(hao)(hao)幅(fu)度波動卻很(hen)小。因此(ci),可利用(yong)點檢(jian)(jian)探頭(tou)(tou)陣列中各(ge)通道獲得最大(da)幅(fu)值(zhi)的時(shi)間差(cha)異來推(tui)算缺(que)陷(xian)走向,為(wei)后續的信號(hao)(hao)(hao)補(bu)償與缺(que)陷(xian)判別奠定(ding)基礎(chu),如圖3-8所(suo)示。


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  漏(lou)磁(ci)設備的(de)(de)(de)檢測(ce)能(neng)(neng)力(li)與探頭芯(xin)結構密(mi)切(qie)相關,從(cong)目(mu)前應用情況來看,漏(lou)磁(ci)檢測(ce)方(fang)法對內外部(bu)腐(fu)蝕坑、內外部(bu)周/軸向(xiang)裂紋(wen)均(jun)(jun)有(you)較好的(de)(de)(de)檢測(ce)精度,同時(shi),對斜(xie)向(xiang)裂紋(wen)具有(you)一(yi)定的(de)(de)(de)檢測(ce)能(neng)(neng)力(li)。但是(shi),漏(lou)磁(ci)檢測(ce)方(fang)法對微(wei)裂紋(wen),如初(chu)期的(de)(de)(de)疲勞裂紋(wen)、熱(re)處理的(de)(de)(de)應力(li)裂紋(wen)、軋制(zhi)時(shi)的(de)(de)(de)微(wei)機械裂紋(wen)和折(zhe)疊不太敏感。究其(qi)原(yuan)因(yin),微(wei)裂紋(wen)的(de)(de)(de)開口(kou)均(jun)(jun)小于0.05mm,漏(lou)磁(ci)場強度較低,因(yin)此,有(you)必要輔以渦流、超聲等其(qi)他檢測(ce)方(fang)法。


  我國進口漏磁(ci)檢測設備采用的(de)(de)(de)基(ji)本都是(shi)基(ji)于線(xian)圈的(de)(de)(de)線(xian)檢探頭,這種(zhong)配置(zhi)需要的(de)(de)(de)信號通道數量相對較少、探靴的(de)(de)(de)有效覆蓋(gai)范(fan)圍大(da)。但是(shi),這種(zhong)方式對缺陷的(de)(de)(de)深度評定需要一定的(de)(de)(de)輔助條件,而且對斜向缺陷的(de)(de)(de)檢測靈敏度較低(di)。


  在具體應用過程(cheng)中,首先應分析檢(jian)(jian)測要求和(he)對象特點(dian),其次要認識探頭(tou)芯的(de)(de)形(xing)式和(he)結構。總的(de)(de)來(lai)講,采用線(xian)檢(jian)(jian)探頭(tou)去檢(jian)(jian)測線(xian)狀(zhuang)缺陷的(de)(de)深度信(xin)息(xi)和(he)采用點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)去評定(ding)點(dian)狀(zhuang)缺陷的(de)(de)長度信(xin)息(xi)均是不現(xian)實的(de)(de);高精度的(de)(de)檢(jian)(jian)測需要以(yi)大量的(de)(de)獨立測量通道和(he)信(xin)號處理系統為代價,因此,應根據(ju)檢(jian)(jian)測目(mu)標綜合(he)權衡。





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